[发明专利]基于N型金属氧化物半导体管结构的微电场传感器无效
申请号: | 200510040282.9 | 申请日: | 2005-05-27 |
公开(公告)号: | CN1693909A | 公开(公告)日: | 2005-11-09 |
发明(设计)人: | 黄庆安;王立峰;秦明 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | G01R29/12 | 分类号: | G01R29/12 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 | 代理人: | 陆志斌 |
地址: | 21009*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于采集电场信号的基于N型金属氧化物半导体管结构的微电场传感器,包括p型衬底,在衬底上设有共平面的两个重掺杂的n型接触区,在重掺杂的n型接触区上为金属引线,在这两个重掺杂的n型接触区之间设有n型沟道且分别与之相连,在n型接触区及n型沟道的表面设有SiO2层;本发明具有如下优点:利用掺杂半导体中电荷的漂移原理,静态地感应电场,当有外电场入射电场微传感器的n型沟道时,沟道电流会随入射电场的增大而增大,因此可以实现高可靠性、高分辨率的电场微传感器。 | ||
搜索关键词: | 基于 金属 氧化物 半导体 结构 电场 传感器 | ||
【主权项】:
1、一种用于采集电场信号的基于N型金属氧化物半导体管结构的微电场传感器,包括p型衬底(1),其特征在于在衬底(1)上设有共平面的两个重掺杂的n型接触区(3),在重掺杂的n型接触区(3)上为金属引线(5),在这两个重掺杂的n型接触区之间设有n型沟道(2)且分别与之相连,在n型接触区(3)及n型沟道(2)的表面设有SiO2层(4)。
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