[发明专利]抗辐射电场微传感器无效
申请号: | 200510040284.8 | 申请日: | 2005-05-27 |
公开(公告)号: | CN1693911A | 公开(公告)日: | 2005-11-09 |
发明(设计)人: | 黄庆安;王立峰;秦明 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | G01R29/12 | 分类号: | G01R29/12 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 | 代理人: | 陆志斌 |
地址: | 21009*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于采集电场信号的抗辐射电场微传感器,包括p型衬底,在p型衬底的底部设有孔,在p型衬底的上表面设有n型硅,在n型硅上注有两个重掺杂的n型接触区,在两个n型接触区之间设有n型沟道且两个n型接触区通过n型沟道相连,在n型接触区和n型沟道上设有SiO2层,在重掺杂的n型接触区上设有金属引线,本发明具有利用掺杂半导体中电荷的漂移原理静态地感应电场,可靠性较高;由于衬底结构被掏空,形成了p型衬底的底部的孔,辐射到结构内的离子无法到达重掺杂的n型接触区,因此实现了结构的抗辐射等优点。 | ||
搜索关键词: | 辐射 电场 传感器 | ||
【主权项】:
1、一种用于采集电场信号的抗辐射电场微传感器,包括p型衬底(1),其特征在于在p型衬底(1)的底部设有孔(6),在p型衬底(1)的上表面设有n型硅(2),在n型硅(2)上注有两个重掺杂的n型接触区(3),在两个n型接触区(3)之间设有n型沟道(7)且两个n型接触区(3)通过n型沟道(7)相连,在n型接触区(3)和n型沟道(7)上设有SiO2层(4),在重掺杂的n型接触区(3)上设有金属引线(5)。
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