[发明专利]连接插座的测试治具及测试方法无效
| 申请号： | 200510041573.X | 申请日： | 2005-08-19 |
| 公开（公告）号： | CN1916647A | 公开（公告）日： | 2007-02-21 |
| 发明（设计）人： | 李惠强 | 申请（专利权）人： | 旭达电脑（昆山）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215300*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 一种连接插座的测试治具及测试方法，用以确认一连接插座与一电路基板之间的焊接状况，其中，该连接插座上设有若干导电通孔，且这些导电通孔的下方分别设有一连接点，且这些连接点对应焊接于电路基板上所设的导电贯孔处，而该测试治具包括若干测试接脚，所有测试接脚之间电性连接，且这些测试接脚与导电通孔一一对应；测试治具插入连接插座后，会使测试接脚与导电通孔电性耦合。而该测试方法是将所有导电通孔电性连接在一起；将任意二导电贯孔电性连接至一测试单元上所设的二测试端；测试二导电贯孔之间的电阻阻值。根据测试单元所测得的阻值大小以判断连接点的焊接状况，从而可保证测试的结果更为准确。 | ||
| 搜索关键词： | 连接 插座 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种连接插座的测试治具，用以确认一连接插座与一电路基板之间的焊接状况，其中，该连接插座上设有若干导电通孔，且这些导电通孔的下方分别设有一连接点，且这些连接点对应焊接于电路基板上所设的导电贯孔处，而该测试治具包括：若干测试接脚，所有测试接脚之间电性连接，且这些测试接脚与导电通孔一一对应；测试前，将测试治具插入连接插座内，会使测试接脚分别延伸进入导电通孔内，并在插入定位后，则会使测试接脚与导电通孔电性耦合；测试时，再选取任意二导电贯孔电性连接至一测试单元上所设的二测试端，根据测试单元所测得的阻值大小以判断连接点的焊接状况。
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