[发明专利]基于SOI技术集成多传感器芯片无效
申请号: | 200510041809.X | 申请日: | 2005-03-17 |
公开(公告)号: | CN1664510A | 公开(公告)日: | 2005-09-07 |
发明(设计)人: | 赵玉龙;蒋庄德;赵立波 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | G01D21/02 | 分类号: | G01D21/02 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 | 代理人: | 罗笛 |
地址: | 710049*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 基于SOI技术集成多传感器芯片,包括硅膜,硅膜与玻璃底座在真空环境下通过静电键合结合,中间形成相对独立的真空环境,硅膜的岛结构下端固定有重锤,硅膜的岛结构上集成有湿度传感器和温度传感器,硅膜上岛结构的四周集成有压力传感器和加速度传感器,加速度传感器包括Y方向加速度测量电路、X方向加速度测量电路和Z方向加速度测量电路。本发明的集成多传感器芯片采用SOI技术,将温度传感器、压力传感器、加速度传感器和湿度传感器集成在一块芯片上,用一块芯片就可得到尽量多的测量参数,而且解决了多传感器各参量之间相互干扰的问题,其体积小、重量轻,尤其在航空航天领域、军事工业领域、汽车领域以及手机行业等特定领域,具有重要的应用前景。 | ||
搜索关键词: | 基于 soi 技术 集成 传感器 芯片 | ||
【主权项】:
1.基于SOI技术集成多传感器芯片,包括硅膜(1),硅膜(1)与玻璃底座(3)在真空环境下通过静电键合结合,中间形成相对独立的真空环境,硅膜(1)的岛结构下端固定有重锤(2),其特征在于,所述硅膜(1)的岛结构上集成有湿度传感器(4)和温度传感器(7),所述温度传感器(7)的电阻条走向沿100晶向或010晶向,硅膜(1)上岛结构的四周集成有压力传感器(9)和加速度传感器,所述压力传感器(9)和加速度传感器的压阻电阻条沿110或110晶向,所述加速度传感器包括Y方向加速度测量电路(8)、X方向加速度测量电路(5)和Z方向加速度测量电路(6)。
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