[发明专利]荧光粉发光光谱和反射率光谱的测量方法无效
| 申请号： | 200510041908.8 | 申请日： | 2005-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN1664565A | 公开（公告）日： | 2005-09-07 |
| 发明（设计）人： | 傅红梅;张东宏 | 申请（专利权）人： | 彩虹集团电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/69 | 分类号： | G01N21/69;G01N21/17 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 | 代理人： | 罗笛 |
| 地址： | 71202*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 荧光粉发光光谱和反射率光谱的测量方法，一种方法是将进行发光特性测量后的载片叠加在测量反射光谱特性的载片上，盖上玻璃片，再进行反射光谱特性的测量；另一种方法是将荧光粉样品装入通用载片上的凹槽内，进行发光特性的测量，测量完成后，盖上玻璃片，再进行反射光谱特性的测量。该方法使发光特性和反射光谱特性的测量一次完成，从而降低制样费用，减轻了检测工的劳动量，提高检测工作效率，减轻了检测废弃荧光粉对环境的污染。 | ||
| 搜索关键词： | 荧光粉 发光 光谱 反射率 测量方法 | ||
【主权项】：
1.荧光粉发光光谱和反射率光谱的测量方法，其特征在于，将荧光粉样品(3)装入测量发光光谱特性的载片(1)上的凹槽(2)内，将其压平，进行发光特性的测量，测量完成后，将载片(1)叠加在测量反射光谱特性的载片(4)上，盖上玻璃片(6)，再进行反射光谱特性的测量。
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