[发明专利]钙钛矿锰氧化物异质薄膜及其制备方法无效
申请号: | 200510043069.3 | 申请日: | 2005-08-08 |
公开(公告)号: | CN1753190A | 公开(公告)日: | 2006-03-29 |
发明(设计)人: | 金克新;陈长乐;赵省贵 | 申请(专利权)人: | 西北工业大学 |
主分类号: | H01L31/00 | 分类号: | H01L31/00;H01G9/20;C04B35/00 |
代理公司: | 西北工业大学专利中心 | 代理人: | 黄毅新 |
地址: | 710072陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种钙钛矿锰氧化物异质薄膜,包括硅单晶基片(1)、LSMO薄膜(2)、银电极(3)和Fe薄膜(4),在硅单晶基片(1)是一层Fe薄膜(4),在Fe薄膜(4)的上面与Fe薄膜(4)垂直是LSMO薄膜(2),LSMO薄膜(2)的两端是银电极(3),电极(3)上有引出线;Fe薄膜(4)的长度大于LSMO薄膜(2)的宽度,Fe薄膜(4)的宽度为LSMO薄膜(2)的一半,Fe薄膜(4)的面积大于LSMO薄膜(2)的面积。还公开了上述锰氧化物异质薄膜的制备方法,采用磁控溅射方法在硅单晶基片上依次沉积Fe和LSMO薄膜。本发明利用铁薄膜的强氧化性,使LSMO薄膜处于高度氧缺陷状态,从而使光电导改变值从400%上升为1660%;另外,用Si作基片制备的LSMO异质薄膜,造价低廉。 | ||
搜索关键词: | 钙钛矿锰 氧化物 薄膜 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
1、一种钙钛矿锰氧化物异质薄膜,其特征在于:包括硅单晶基片(1)、LSMO薄膜(2)、银电极(3)和Fe薄膜(4),在硅单晶基片(1)上面是一层Fe薄膜(4),在Fe薄膜(4)的上面与Fe薄膜(4)垂直是LSMO薄膜(2),LSMO薄膜(2)的两端是银电极(3),电极(3)上有引出线;Fe薄膜(4)的长度大于LSMO薄膜(2)的宽度,Fe薄膜(4)的宽度为LSMO薄膜(2)的一半,Fe薄膜(4)的面积大于LSMO薄膜(2)的面积。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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