[发明专利]一种半自动X射线晶面指数标定方法和晶胞常数计算方法

摘要

本发明涉及X射线晶面指数标定方法和晶胞常数计算方法。依据LaNi₅基贮氢材料具有与LaNi₅在X射线谱上相同的峰形的基本原理编制了计算机半自动标定程序实现晶面标定，同时利用该晶面标定结果采用最小二乘法编制了晶胞常数精确计算程序，采用本发明可以进行LaNi₅基贮氢材料X射线衍射谱的晶面指数标定和晶胞常数的精确计算。

主权项

1、一种半自动X射线晶面指数标定方法和晶胞常数计算方法，其特征在于包括如下步骤：1)将LaNi5基贮氢材料样品制粉并过20～30um细筛，然后在X射线衍射仪上，使用CuKα辐射，波长λ＝1.54056，对样品进行连续扫描，扫描速度：0.12～2秒/步，扫描步长：0.02～0.04度/步，2θ的范围：20-90度，得到样品的X射线衍射谱；2)将晶体参数及指数标定的数据文件导入到MATLAB软件的工作空间中，将样品X射线衍射谱的衍射数据替代Sample_xrd已有数据，Sample_xrd是一个列数为二的数组，第一列为衍射角，第二列为衍射强度；3)然后在MATLAB的命令窗口中键入命令使屏幕上会出现一个人机交互式窗口；4)用户通过参照LaNi5的X射线衍射谱来标定样品的晶面指数，并通过晶面指数与衍射角的一一对应关系最终计算出样品的晶胞常数；5)整个标定及计算过程由以下程序完成，整个程序包含3个函数：cal_cell_para函数、cohenh函数、indexing函数；其中cal_cell_para函数完成实验数据的分配，显示样品和LaNi5合金X射线谱以及LaNi5标准峰位分布，以及分别调用indexing函数和cohenh函数，完成标定及计算后将数据显示在窗口中；indexing函数用于标定样品的X射线衍射谱，输入变量为样品的X射线衍射谱的衍射角和对应的衍射强度，以及LaNi5标准X射线衍射峰的衍射角与对应晶面指数，输出变量为样品的衍射角和对应晶面指数；cohenh函数用于计算样品的晶胞常数，输入变量为样品的衍射角和对应晶面指数和衍射线的波长，输出变量为样品的晶胞常数a0、c0、V0，所用数学计算方法为最小二乘法。