[发明专利]一种微小试样的疲劳性能测试方法及实现装置无效
申请号: | 200510047667.8 | 申请日: | 2005-11-09 |
公开(公告)号: | CN1963445A | 公开(公告)日: | 2007-05-16 |
发明(设计)人: | 曾秋莲;崔学顺;郭建军;闵家源;王中光;尚建库 | 申请(专利权)人: | 中国科学院金属研究所 |
主分类号: | G01N3/317 | 分类号: | G01N3/317;G01N25/00 |
代理公司: | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 | 代理人: | 许宗富;周秀梅 |
地址: | 110016辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明涉及一种疲劳测试技术,具体地说是公开一种微小试样疲劳性能测试方法及实现装置。采用通电激磁线圈产生的磁场对微小试样进行力的加载,具体是:将微小试样一端固定,另一端呈自由状态置于磁场中,通电激磁线圈,使微小试样附近产生磁场,通过所述磁场对微小试样进行力的加载,从而测试疲劳性能。采用本发明,加载力的大小通过调节电压和频率来控制,可以小至1mN(0.1g力),甚至更小;实验频率可以任意调节。与此同时,还可以在微小试样上通直流电流,可以实现对微小试样力、电的同时加载,可以方便而有效地对微小试样的介观行为进行研究,这时试样所受的力还可通过该直流电流来调节。 | ||
搜索关键词: | 一种 微小 试样 疲劳 性能 测试 方法 实现 装置 | ||
【主权项】:
1.一种对微小试样的疲劳性能测试方法,其特征在于:采用通电激磁线圈产生的磁场对微小试样进行力的加载,具体是:将微小试样一端固定,另一端呈自由状态置于由激磁线圈产生的磁场中,在对激磁线圈通电情况下,利用微小试样周围产生的磁场,对微小试样进行力的加载,从而测试其疲劳性能;所述微小试样为微米级尺寸试样。
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