[发明专利]一种日盲区紫外探测器用的薄膜材料及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200510049139.6 申请日: 2005-02-28
公开(公告)号: CN1684275A 公开(公告)日: 2005-10-19
发明(设计)人: 季振国;何作鹏 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: H01L31/00 分类号: H01L31/00;H01L27/14;H01L21/02;C23C18/00;G01J1/02
代理公司: 杭州之江专利事务所 代理人: 连寿金
地址: 310013浙江省杭*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 一种日盲区紫外探测器用的薄膜材料,其特征是该薄膜材料的分子式为Ni1-XMgXO,式中0.2≤X≤0.3;制造该材料采用下列工艺步骤:1)按照分子式Ni1-XMgXO中的镁/镍原子比,将重量比为1∶1.27~1∶4.63的乙酸镁和乙酸镁放入容器中,以己二醇甲醚为溶剂,冰醋酸为催化剂,在60℃下搅拌50~70分钟,放置陈化24小时,获得均匀透明的绿色溶胶;2)用提拉法或旋涂法在衬底上涂上一层溶胶;3)把涂有溶胶的衬底在80℃下烘干,在500℃下热处理1~2小时,再在900~1100℃下高温热处理2~6小时后自然冷却,获得所需成分的薄膜材料。同现有技术比较,本发明的突出优点是:该薄膜材料制造工艺特别简单,无毒性,成本低,是一种理想的日盲区紫外探测器使用的薄膜材料。
搜索关键词: 一种 盲区 紫外 探测 器用 薄膜 材料 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种日盲区紫外探测器用的薄膜材料,其特征在于:该薄膜材料是镍镁氧化物,其分子式为Ni1-XMgXO,式中0.2≤X≤0.3。
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