[发明专利]离子迁移率分析装置及离子迁移率分析方法无效
| 申请号： | 200510051340.8 | 申请日： | 2005-03-04 |
| 公开（公告）号： | CN1758057A | 公开（公告）日： | 2006-04-12 |
| 发明（设计）人： | 桥本雄一郎;长谷川英树;和气泉 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立制作所 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62;G01N30/88;G01N30/72;H01J49/40 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人： | 郝庆芬 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种离子迁移率分析装置，其包括：生成第1离子的离子源1；根据飞行漂移时间分离所述第1离子的第1漂移部(L1)；对由第1漂移部分离出的所述第1离子进行离解，来生成第2离子的离子离解部(Lg)；以及根据飞行漂移时间分离所述第2离子的第2漂移部(L2)；第1漂移部、离子离解部、第2漂移部，被设置在压力为10mTorr以上的腔室内；通过所述结构，能够以低成本进行高分辨率的离子分离检测。 | ||
| 搜索关键词： | 离子迁移率 分析 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种离子迁移率分析装置，其特征在于，包括：离子源，生成第1离子；第1漂移部，其根据飞行漂移时间分离所述第1离子；离子离解部，其对由第1漂移部分离的所述第1离子进行离解来生成第2离子；和第2漂移部，其根据飞行漂移时间分离所述第2离子。
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