[发明专利]测量光电子器件TO封装座高频参数用的测试夹具无效
申请号: | 200510055018.2 | 申请日: | 2005-03-14 |
公开(公告)号: | CN1834662A | 公开(公告)日: | 2006-09-20 |
发明(设计)人: | 张尚剑;祝宁华 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | G01R1/02 | 分类号: | G01R1/02;G01R31/26;H01L21/66 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 汤保平 |
地址: | 100083北*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种测量光电子器件TO封装座高频参数用的测试夹具,其中包括:一背地共面波导,该背地共面波导包括:一方形填充介质,该方形填充介质为矩形;一底面电极、两侧面电极和两顶面电极,该底面电极、两侧面电极和两顶面电极是由一矩形金属材料围组而成,形成一端断面概似矩形的框体形成地电极,该框体的上面有一开口;一信号电极,该信号电极为一金属条状,该信号电极置于背地共面波导上的开口内、方形填充介质上,该信号电极不与两顶面电极接触;一同轴接头,该同轴接头包括:一内空心金属导体,该内空心金属导体与背地共面波导的信号电极连接;一外金属导体,该外金属导体与背地共面波导地电极连接。 | ||
搜索关键词: | 测量 光电子 器件 to 封装 高频 参数 测试 夹具 | ||
【主权项】:
1、一种测量光电子器件TO封装座高频参数用的测试夹具,其特征在于,其中包括:一背地共面波导,该背地共面波导包括:一方形填充介质,该方形填充介质为矩形;一底面电极、两侧面电极和两顶面电极,该底面电极、两侧面电极和两顶面电极是由一矩形金属材料围组而成,形成一端断面概似矩形的框体形成地电极,该框体的上面有一开口;一信号电极,该信号电极为一金属条状,该信号电极置于背地共面波导上的开口内、方形填充介质上,该信号电极不与两顶面电极接触;一同轴接头,该同轴接头包括:一内空心金属导体,该内空心金属导体与背地共面波导的信号电极连接;一外金属导体,该外金属导体为管状,该内空心金属导体置于该外金属导体的中间,该外金属导体与背地共面波导地电极连接,该内空心金属导体和外金属导体之间填充有填充介质。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院半导体研究所,未经中国科学院半导体研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200510055018.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种可烧制高温炭的炭化炉装置
- 下一篇:多色火焰防风打火机