[发明专利]传感器装置有效
申请号: | 200510055074.6 | 申请日: | 2005-03-15 |
公开(公告)号: | CN1670470A | 公开(公告)日: | 2005-09-21 |
发明(设计)人: | 中下直哉;嶋田浩二;川合喜典;河内雅弘 | 申请(专利权)人: | 欧姆龙株式会社 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人: | 高龙鑫;张龙哺 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 提供一种能够高速地进行数据读取处理的位移传感器装置。位移传感器装置包括:用于按规定角度对测量对象物照射光的发光元件;用于对被照射光的测量对象物从不同角度进行摄像的摄像元件;可在摄像元件的视野内设定通常测量区域的通常测量区域设定部件;通过对设定的通常测量区域进行扫描,检测摄像元件的视野内的照射光像的位置的照射光像位置检测部件;对包含被检测出的照射光像的位置并比通常测量区域窄的至少一个跟踪型测量区域进行设定的跟踪型测量区域设定部件;通过对跟踪型测量区域进行测量而测量作为目标的位移的位移测量部件;以及输出由位移测量部件测量出的位移的输出部件。 | ||
搜索关键词: | 传感器 装置 | ||
【主权项】:
1.一种传感器装置,其特征在于,包括:用于按规定角度对测量对象物照射光的投光元件;用于对被照射光的测量对象物从另外的角度进行摄像的摄像元件;可在摄像元件的视野内设定通常测量区域的通常测量区域设定部件;通过对设定的通常测量区域进行扫描来检测摄像元件的视野内的照射光像的位置的照射光像位置检测部件;对包含被检测出的照射光像的位置并且有关位移测定方向比通常测量区域窄的至少一个跟踪型测量区域进行设定的跟踪型测量区域设定部件;通过测量跟踪型测量区域来测量作为目标的位移的位移测量部件;以及将测量出的位移输出的输出部件。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于欧姆龙株式会社,未经欧姆龙株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200510055074.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。