[发明专利]电气信号连接装置、及使用此装置之探针组装体及探测器装置无效
| 申请号： | 200510055220.5 | 申请日： | 2005-03-16 |
| 公开（公告）号： | CN1670540A | 公开（公告）日： | 2005-09-21 |
| 发明（设计）人： | 木本军生 | 申请（专利权）人： | 木本军生 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R1/06;H01L21/66 |
| 代理公司： | 北京天平专利商标代理有限公司 | 代理人： | 孙刚 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 对于具有高密度端子的电子装置、或半导体晶粒，可一次全部同时地进行检测测试。因此，做为电气信号连接装置，有接触设于被检查电气机能组件之电气连接用端子、进行电气连接的垂直型探针，以及支持前述垂直型探针之树脂薄膜，前述垂直型探针，在树脂薄膜之面上，沿着该薄膜面的方向，具有弹性变形可能，将与前述垂直型探针之一端，接触被检查电气机能组件的端子，将前述垂直型探针的另一端，接触电气机能检查装置的端子，在被检查电气机能组件与电气机能检查装置之间，收发信号。 | ||
| 搜索关键词： | 电气 信号 连接 装置 使用 探针 组装 探测器 | ||
【主权项】：
1.一种电气信号连接装置，其特征在于：具有与设于被检查电气机能组件之电气连接用端子接触，进行电气连接之垂直型探针，以及支持着前述垂直型探针之树脂薄膜，前述垂直型探针在树脂薄膜的面上，沿着该薄膜面的方向，以具有弹性变形的方式设置，将前述垂直型探针的一端，与被检查电气机能组件的端子接触，将前述垂直型探针的另一端，与电气机能检查装置的端子接触，在被检查电气机能组件及电气机能检查装置之间，收发信号。
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