[发明专利]采用菲涅尔双面镜的全反射式傅立叶变换成像光谱仪无效

专利信息
申请号: 200510055609.X 申请日: 2005-03-21
公开(公告)号: CN1837763A 公开(公告)日: 2006-09-27
发明(设计)人: 赵达尊;廖宁放;楚建军;李颖;黄庆梅;蒋月娟;胡威捷;范秋梅 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01J3/45 分类号: G01J3/45;G01J3/26
代理公司: 北京理工大学专利中心 代理人: 付雷杰
地址: 100081北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种采用菲涅尔双面反射镜的全反射式傅立叶变换成像光谱仪。该系统由光学结构、焦平面探测器及信号采集处理系统组成。光学结构包括反射式前置望远镜、狭缝、反射式准直镜、菲涅尔双面反射镜、反射式柱面镜等部分。入射光被菲涅尔双面反射镜分解成两束具有一定交角的相干光束,在焦平面探测器表面产生一维干涉条纹;另一维灰度图由柱面镜聚焦成像。二维焦平面探测器可采用可见光到长波红外(0.4-14μm)中任意波段。信号采集处理系统可得到狭缝上各点的图像及光谱分布。沿与狭缝垂直方向推扫得到目标光谱图像数据立方体。本发明装置光谱响应波段宽、光通量大、信噪比高且结构简单,特别适用于航空航天遥感的高光谱成像领域。
搜索关键词: 采用 菲涅尔 双面 全反射 傅立叶 变换 成像 光谱仪
【主权项】:
1.一种采用菲涅尔双面镜的全反射式傅立叶变换成像光谱仪,包括光学结构、焦平面探测器(6)以及信号采集处理系统(7);其特征是:在它的光学结构中采用一组菲涅尔双面反射镜(4)以构成光学干涉结构。
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