[发明专利]一种用于控制工业过程的质量的方法和系统有效
| 申请号： | 200510055816.5 | 申请日： | 2005-03-16 |
| 公开（公告）号： | CN1670648A | 公开（公告）日： | 2005-09-21 |
| 发明（设计）人： | G·德安格洛;G·帕斯克塔兹;A·特雷诺 | 申请（专利权）人： | C.R.F.阿西安尼顾问公司 |
| 主分类号： | G05B23/00 | 分类号： | G05B23/00;G05B23/02;B23K26/03 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 王岳;梁永 |
| 地址： | 意大利奥*** | 国省代码： | 意大利;IT |
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| 摘要： | 用于控制工业过程的质量的方法，包含：获得与该工业过程相关的一个或多个参考信号，获取指示工业过程质量的一个或多个实际信号，比较所述一个或多个参考信号与所述一个或多个实际信号，识别工业过程中的缺陷。该方法还包含：根据所述参考信号获得实部和虚部；根据所述实际信号获得实部和虚部；计算根据所述参考信号获得的所述实部和虚部之间的第一比较量；计算根据所述实际信号获得的所述实部和虚部之间的第二比较量；比较第一比较量和第二比较量，获得与缺陷的存在相关的时间位置信息。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 控制 工业 过程 质量 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种用于控制工业过程的质量的方法，这种方法包含以下步骤：获得与该工业过程相关的一个或多个参考信号(xref)，获取指示所述工业过程质量的一个或多个实际信号(xrea1)，将所述一个或多个参考信号(xref)与所述一个或多个实际信号(xrea1)进行比较，从而识别所述工业过程中的缺陷，根据所述参考信号(xref)获得(100)实部(Iref)和虚部(Rref)；根据所述实际信号(xrea1)获得(200)实部(Irea1)和虚部(Rrea1)；该方法的特征在于它进一步包含以下操作：计算(101，102，103，104)根据所述参考信号(xref)获得的所述实部(Iref)和所述虚部(Rref)之间的第一比较量(Acref、Fref、mFref、mFref_med)；计算(201，202，203)根据所述实际信号(xrea1)获得的所述实部(Irea1)和所述虚部(Rrea1)之间的第二比较量(Acrea1、Frea1、mFrea1)；将所述第一比较量(Acref、Fref、mFref、mFef_med)和第二比较量(Acrea1、Frea1、mFrea1)进行比较(204，105，205)，从而获得与缺陷的存在(Ga、Gf)相关的时间位置信息(t1、t2、D)。
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