[发明专利]辐射检测器及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200510055991.4 申请日: 2005-03-24
公开(公告)号: CN1673773A 公开(公告)日: 2005-09-28
发明(设计)人: 户波宽道;大井淳一 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: G01T1/20 分类号: G01T1/20
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 王新华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种闪烁器阵列具有由设置在闪烁器之间的光反射元件和光传递元件分隔开的,以紧凑、两维方式排列的闪烁器。也就是说,闪烁器阵列具有由诸如光反射元件和光传递元件之类的板状光学元件交叉地结合而成的格式框架。格式框架限定多个小室。将透明的光学粘合剂倒入用于容纳格式框架的长方形容器中,将格式框架放置在长方形容器中,然后将闪烁器放置在长方形容器中。与已凝固的光学粘合剂、格式框架以及闪烁器结合在一起的凝固树脂物从容器中去除,并且经过外形加工制成闪烁器阵列。这样,光学元件排列在闪烁器阵列中。而不需要用钻石轮划片机或晶片切割用线状锯对其进行切割。
搜索关键词: 辐射 检测器 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种辐射检测器,其包括由多个以紧凑、两维方式排列的闪烁器形成的闪烁器阵列、与所述闪烁器阵列光学连接的光导向装置,以及多个数量少于所述闪烁器并与所述光导向装置光学连接的光电倍增管,其中:所述闪烁器阵列至少由所述闪烁器和具有交叉地结合的板状光学元件的格式框架形成,所述格式框架限定多个小室。
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