[发明专利]一种寄存器传输级可观测性覆盖分析与激励生成方法有效
| 申请号： | 200510056344.5 | 申请日： | 2005-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN1688022A | 公开（公告）日： | 2005-10-26 |
| 发明（设计）人： | 鲁巍;李晓维 | 申请（专利权）人： | 中国科学院计算技术研究所 |
| 主分类号： | H01L21/82 | 分类号： | H01L21/82;G06F17/50;G11C19/00;G11C29/00;G06F11/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 段成云 |
| 地址： | 100080北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及集成电路设计验证领域，特别是一种寄存器传输级可观测性覆盖分析与激励生成方法。通过增强型进程控制树、控制－观测链等数据模型表征可观测性信息，在此基础上，通过对设计电路动态执行过程中，每个观测点的控制－观测链的确定与回退，分析语句与变量的可观测性，得到可观测性语句覆盖率，并且利用得到的可观测性信息指导激励生成。本发明解决了目前已有的可观测性覆盖评估方法复杂度高以及在激励生成过程中不考虑可观测性的问题。生成。本发明可用于在模拟过程中计算代码的可观测性语句覆盖率，进而更确切地评估验证的力度，也可以用于在激励生成过程中以可观测性覆盖信息为指导，提高激励的质量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 寄存器 传输 观测 覆盖 分析 激励 生成 方法 | ||
【主权项】：
1.一种寄存器传输级可观测性覆盖分析与激励生成方法，其特征在于，通过增强型进程控制树、控制-观测链等数据模型表征可观测性信息，在此基础上，通过对设计电路动态执行过程中，每个观测点的控制-观测链的确定与回退，分析语句与变量的可观测性，得到可观测性语句覆盖率，并且利用得到的可观测性信息指导激励生成。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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