[发明专利]处理缺陷区和链接区的方法有效
| 申请号： | 200510056826.0 | 申请日： | 2000-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN100416691C | 公开（公告）日： | 2008-09-03 |
| 发明（设计）人： | 李坰根;高祯完;金荣润;朴仁植;金伦基 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B20/10 | 分类号： | G11B20/10;G11B20/12;G11B20/18 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人： | 韩明星 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 一种处理存储链接类型信息的记录介质中缺陷区和链接区的方法。记录介质存储表示紧跟在缺陷区后进行链接的信息，该信息将发生在一般递增记录模式中的链接类型和发生在缺陷区后的链接类型区别开。在用户数据记录前或用户数据正在记录时检测缺陷区并登记在预定区中。链接不仅应用到递增记录模式或有限重写记录模式，还应用到紧跟在缺陷区后的区域，提高了用户数据的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 处理 缺陷 链接 方法 | ||
【主权项】：
1. 一种在记录介质中处理和/或分配链接区的方法，包括：检测在记录用户数据之前或在记录用户数据的同时发生在记录介质中的缺陷区；在记录介质的缺陷管理区中登记缺陷区列表；以及紧跟至少一个登记的缺陷区之后形成一个具有预定的类型的链接区。
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