[发明专利]一种产生高精度、大测量范围微小位移的方法及系统无效
| 申请号： | 200510057428.0 | 申请日： | 2005-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN1776349A | 公开（公告）日： | 2006-05-24 |
| 发明（设计）人： | 陈伟民;陈星;雷小华;朱永 | 申请（专利权）人： | 重庆大学;陈星 |
| 主分类号： | G01B5/00 | 分类号： | G01B5/00 |
| 代理公司： | 重庆弘旭专利代理有限责任公司 | 代理人： | 侯懋琪 |
| 地址： | 400044重庆*** | 国省代码： | 重庆;85 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种产生高精度、大测量范围微小位移的方法及系统，其方法为：在悬臂梁上的任意一点x施加加载力F，在悬臂梁端点B点获得所需要的微小位移。其系统由支撑、底座和悬臂构成，其中，底座和悬臂平行，支撑与底座及悬臂垂直；底座、支撑、悬臂顺序连接并呈卧“U”形。本发明的优点是：精度高，可达到亚微米级，变形范围大，变形范围从几个微米到几十个毫米，从而实现大测量范围内的高精度测量；结构简单、容易实现；成本低廉。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 产生 高精度 测量 范围 微小 位移 方法 系统 | ||
【主权项】：
1、一种产生高精度、大测量范围微小位移的方法，其特征在于：在悬臂梁上的任意一点x施加加载力F，在悬臂梁端点B点获得所需要的微小位移。
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