[发明专利]确定最佳擦除和写入功率的方法、以及带有使用所述方法的设备的记录装置

摘要

本发明涉及用于确定擦除和写入光记录载体(85)信息的最佳擦除(17)和写入功率的方法和装置。从其中标准反射功率(12)与测试功率(11)相对的图示曲线中的两个特定点(22)和(24)上找到的P_min (15)和P_max (16)中确定这些最佳功率。

主权项

1.一种使用在确定用于擦除在一种光记录介质中所提供标记的最佳擦除功率的方法中的光记录介质(85)，其中，在所述这种光记录介质中是这样提供这些标记的：通过用具有足够高功率的辐射脉冲来局部加热所述记录介质从而导致该记录介质上的光学特性的改变，其中随着所述辐射脉冲反射的减小，这种光学特性的改变变得显著，其特征在于，该方法包括一个准备步骤：通过用具有第一功率的辐射脉冲来局部加热记录介质从而在该记录介质上提供标记，随后是确定该辐射脉冲的第二功率(Pmin)的第一检测步骤，在该功率处，当以低于所述第二功率的功率照射该记录介质时，在准备步骤中所提供的标记位置处，该记录介质的光学特性基本不变，而当以高于所述第二功率的功率照射该记录介质时，在所提供的标记位置处的该记录介质的光学特性发生改变，使得归一化的反射功率增加，以及第二检测步骤确定该辐射脉冲的第三功率(Pmax)，在该功率处，当在准备步骤中所提供的标记位置处以所述第三功率照射该记录介质时，该记录介质的光学特性改变，使得归一化的反射功率变得最大，随后是从下列方程中确定最佳擦除功率(PEO)的计算步骤$P_{\mathrm{EO}}=\beta ·\frac{(P_{\min }+P_{\max })}{\alpha }$ 其中α是提前公知的一个常数，β是依赖于所使用的记录介质特性的一个预定变量，其中所述记录介质由射线束所刻录，该记录介质包含一个包括有关该光记录介质特性的信息的区域，其特征在于，包括有关该光记录介质特性的信息的区域包括表示用于在所述方法的比较步骤中使用的因子β的值的标记模式。