[发明专利]磁共振设备的不规则被测体的匀场方法有效
| 申请号： | 200510059757.9 | 申请日： | 2005-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN1841082A | 公开（公告）日： | 2006-10-04 |
| 发明（设计）人： | 倪成;陈进军;曹辉;任仲友 | 申请（专利权）人： | 西门子（中国）有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/38 | 分类号： | G01R33/38;G01R33/383;A61B5/055 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100102北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种磁共振设备的不规则被测体的匀场方法，包括以下步骤：通过位于不规则被测体表面的测量点测量其磁场参数；依据磁场参数，当针对被动匀场时，计算出用于调整磁场均匀度的匀场片的位置和数量，当针对主动匀场时，计算出匀场线圈中电流的大小，针对主动匀场和被动匀场同时实施时，同时计算出所述匀场片的位置和数量以及匀场线圈中电流的大小；依据上述计算结果进行匀场；以及重复上述步骤直到获得所需要的磁场均匀度。由于所述的匀场区被设计成不规则形状，从而能更好地覆盖该不规则被测体，同时减少了对该不规则被测体外不必要的区域的匀场约束，避免了对该不必要的区域进行匀场。 | ||
| 搜索关键词： | 磁共振 设备 不规则 被测体 方法 | ||
【主权项】：
1.一种磁共振设备的不规则被测体的匀场方法，其特征在于包括以下步骤：(1)通过位于不规则被测体表面的测量点测量其磁场参数；(2)依据磁场参数，当针对被动匀场时，计算出用于调整磁场均匀度的匀场片的位置和数量，当针对主动匀场时，计算出匀场线圈中电流的大小，针对主动匀场和被动匀场同时实施时，同时计算出所述匀场片的位置和数量以及匀场线圈中电流的大小；(3)根据上述计算结果进行匀场；以及(4)重复步骤(1)到(3)直到获得所需要的磁场均匀度。
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