[发明专利]与移动和指向检测系统一同使用的刻度

摘要

提供了一种位置传感器，其使用一种新型结构光产生刻度或目标部件。成象阵列能够同时以X，Y，Z，偏转，俯仰和滚动(“6D”)并以高精确度，测量结构光产生刻度或目标部件的相对转移与指向。在各实施例中，目标部件包括透镜的一个阵列，它们提供结构光模式的一个阵列，作为相对位置的“Z”坐标函数，该模式发散，会聚或进行这两者以改变对应的结构光图像的尺寸。成象阵列上每一个结构光图像X－Y位置随结构光产生目标部件的相对X－Y位置而变化，并且结构光图像的形状作为相对角度的指向的函数而改变。因而，在同一图像中分析的三个或更多的结构光图像，用来确定结构光产生目标部件与阵列检测器之间的6D测量。目标部件的X和Y位移可通过已知的方法累积，且其它6D测量分量是在任何位置的绝对测量。

主权项

1.一种位置测量装置，可用于测量两个部件之间的相对位置，所述位置测量装置包括：一个成象检测器；以及一个结构光产生目标部件，其中：成象检测器与结构光产生部件可被定位以在阵列检测器上提供一个图像，其对应于由至少结构光产生目标部件的一部分产生的结构光模式；以及阵列检测器上的图像可用来确定至少一个测量值，其对应于成象检测器与目标部件之间相对位置的至少一个自由度。