[发明专利]改进的波长检测器有效
| 申请号： | 200510060053.3 | 申请日： | 2005-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN1715842A | 公开（公告）日： | 2006-01-04 |
| 发明（设计）人： | 马克·费尔德曼 | 申请（专利权）人： | 株式会社米姿托约 |
| 主分类号： | G01J9/00 | 分类号： | G01J9/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 郭思宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 提供一种辐射测量装置，用于确定来自辐射源的辐射的波长相关的特性。所述辐射测量装置包括波长相关的光学元件(例如带通滤光器)，以及光学功率测量检测器(例如光检测器)。至少一个光束入射到沿着所述装置的光路设置的偏振敏感的反射与/或透射表面上，被所述波长相关的光学元件透射，并被沿着所述光路的光学功率测量检测器接收。所述辐射测量装置还包括沿着所述光路在所述光学功率测量检测器之前设置的线性偏振器。在操作时，所述线性偏振器确保由所述偏振敏感的反射与/或透射表面接收的光束具有基本上固定的偏振状态，而和原始的入射光束的偏振状态无关，借以减少或消除在所述辐射测量装置中的不受控制的偏振相关误差。 | ||
| 搜索关键词： | 改进 波长 检测器 | ||
【主权项】：
1.一种辐射测量装置，用于确定来自辐射源的辐射的波长相关的特性，所述辐射测量装置包括：沿着第一光路设置的第一波长相关的光学元件；沿着所述第一光路设置的在所述波长相关的光学元件后面的用于接收沿着所述第一光路传输的辐射的第一光学功率测量检测器；以及沿着所述第一光路设置的在所述第一光学功率测量检测器之前的第一线性偏振器，其中：沿着所述第一光路传输的辐射在被所述第一光学功率测量检测器接收之前入射到至少一个沿着所述第一光路设置的偏振敏感的表面上，以及所述第一线性偏振器被这样设置，使得由所述第一光学功率测量检测器接收的辐射已经由所述第一线性偏振器线性偏振。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社米姿托约，未经株式会社米姿托约许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200510060053.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于治疗心脏疾病的材料组合物、相关系统和方法
- 下一篇：原稿压紧板开闭装置
