[发明专利]使用脉冲模式离子室检测高能辐射的方法和装置有效
| 申请号： | 200510060075.X | 申请日： | 2005-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN1677127A | 公开（公告）日： | 2005-10-05 |
| 发明（设计）人： | 亚历山大·约瑟夫·埃辛;迈克尔·马斯捷罗夫 | 申请（专利权）人： | 热电集团 |
| 主分类号： | G01T1/185 | 分类号： | G01T1/185 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 夏青 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测量高能辐射通量的方法，包括：向离子室中的电极施加正电压，其中离子室中充满能够由高能辐射形成带电荷离子的气体；测量与正电压引起的离子电流相关的正离子电流信号；向电极施加负电压；测量与负电压引起的离子电流相关的负离子电流信号；和根据离子电流信号，确定高能辐射通量的大小。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 脉冲 模式 离子 检测 高能 辐射 方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种测量高能辐射通量的方法，包括：向离子室中的电极施加正电压，其中，所述离子室中充满能够由高能辐射形成带电荷离子的气体；测量与所述正电压引起的离子电流相关的正离子电流信号；向所述电极施加负电压；测量与所述负电压引起的离子电流相关的负离子电流信号；和根据所述离子电流信号，确定高能辐射通量的大小。
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