[发明专利]多层陶瓷电容器无效
| 申请号： | 200510060174.8 | 申请日： | 2005-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN1677587A | 公开（公告）日： | 2005-10-05 |
| 发明（设计）人： | 室泽贵子;宫内真理;野口和则;佐藤阳 | 申请（专利权）人： | TDK株式会社 |
| 主分类号： | H01G4/12 | 分类号： | H01G4/12;H01G4/30 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 郭煜;庞立志 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种多层陶瓷电容器1，其具有内部电极层3和厚度小于2μm的电介体层2，其特征在于，上述层间电介体层2含有多个电介体粒子2a而构成，以上述层间电介体层2中的电介体粒子2a全体的粒度分布的标准偏差为σ(无单位)、以上述层间电介体层2中的电介体粒子2a全体的平均粒径为D50(单位：μm)，此时的具有该D50的2.25倍以上的平均粒径的电介体粒子(粗粒)在上述电介体粒子2a全体中存在的比率用p(单位：％)表示时，上述σ、p分别满足σ＜0.130、p＜12％。通过本发明，能够提供即使对层间电介体层2实施薄层化也有望提高各种电特性、特别是既具有充分的介电常数又提高TC偏压特性的多层陶瓷电容器1。 | ||
| 搜索关键词： | 多层 陶瓷 电容器 | ||
【主权项】：
1.一种多层陶瓷电容器，其具有内部电极层和厚度小于2μm的电介体层，其中，上述电介体层含有多个电介体粒子而构成，上述电介体层中的电介体粒子全体的粒度分布的标准偏差用σ(无单位)表示时，上述σ满足σ＜0.130。
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