[发明专利]器件引脚共面度测量方法无效
| 申请号： | 200510063072.1 | 申请日： | 2005-04-05 |
| 公开（公告）号： | CN1847784A | 公开（公告）日： | 2006-10-18 |
| 发明（设计）人： | 申中国;唐卫东 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/00 | 分类号： | G01B21/00 |
| 代理公司： | 北京凯特来知识产权代理有限公司 | 代理人： | 郑立明 |
| 地址： | 518129广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种器件引脚共面度测量方法，它通过选用一个双面光滑厚度均匀的轻薄平板，并用该平板的一个平面去覆盖该被测器件所有引脚，得到由被测器件最高三个不在同一直线上引脚高度确定的参考平面，再用三坐标测量仪或者具有类似功能的测量仪器设备直观地测得器件各引脚与参考平面的垂直距离，进而得到共面度。所以，本发明的共面度测量完全遵循器件引脚共面度定义的，能直观方便地对各种封装形式尤其是BGA封装形式的器件引脚共面度进行测量。 | ||
| 搜索关键词： | 器件 引脚 共面度 测量方法 | ||
【主权项】：
1、一种器件引脚共面度测量方法，其特征在于，包括：A、选用一个至少能覆盖器件所有引脚、厚度均匀的平板，并测得其厚度值；B、用所述平板的一个平面去覆盖该被测器件所有引脚，并把所述平板另的一个平面设定为共面度测量参考平面；C、测量所述被测器件所有引脚到该测量参考平面的垂直距离，并根据测量结果及所述平板厚度值获得被测器件引脚共面度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华为技术有限公司，未经华为技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200510063072.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
