[发明专利]晶片工艺平台的安全监控机制无效
申请号: | 200510063512.3 | 申请日: | 2005-04-08 |
公开(公告)号: | CN1845297A | 公开(公告)日: | 2006-10-11 |
发明(设计)人: | 黄裕鸿 | 申请(专利权)人: | 泉胜科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;H01L21/66;G06Q90/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 穆魁良 |
地址: | 台湾省*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明是有关于一种晶片工艺平台的安全监控机制,主要是设于该晶片工艺平台上供运送晶片的移载装置上,一振动或声音或形变感应器供侦测该移载装置运作时所产生的振动或声音或曲率或位移量,一判别模块接收该振动或声音或形变感应器所侦测的振动或声音或曲率或位移量,并将其转换成数字信号及与预先设定的标准信号范围作比对分析,一警示装置于该判别模块比对分析判别出该振动或声音或形变感应器所侦测的数字信号超过标准信号范围或发生异常时,则会产生一警示的声、光;如此,便可于该晶片工艺平台的移载装置的运动发生异常的初始,便能实时地发现及排除,以藉此而具有能有效地大幅降低不良率产生的效益。 | ||
搜索关键词: | 晶片 工艺 平台 安全 监控 机制 | ||
【主权项】:
1、一种晶片工艺平台的安全监控机制,其特征在于包括:一振动感应器,设于该晶片工艺平台的移载装置上,供侦测该移载装置运作时所产生的振动;一判别模块,接收来自该振动感应器所侦测的振动,并将其转换成数字信号,且与预先设定的标准信号范围作比对分析;一警示装置,于该判别模块比对分析出该振动感应器所侦测的数字信号超过标准信号范围而发生异常时,即产生一警示信号以提醒工作人员。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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