[发明专利]光位移测量装置有效
| 申请号： | 200510064158.6 | 申请日： | 2005-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN1670476A | 公开（公告）日： | 2005-09-21 |
| 发明（设计）人： | 岩本正;谷村吉久 | 申请（专利权）人： | 三丰株式会社 |
| 主分类号： | G01C3/00 | 分类号： | G01C3/00;G02B3/06 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 王景刚;王冉 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种光位移测量装置，其用于引导来自光源的光通过具有物镜的光学系统到达目标，并用于通过检测部分检测从目标反射的光，从而测量目标相对于物镜的位移。在光位移测量装置中，物镜是锥形透镜，其用于朝着目标推进所述光，并用于接收由目标反射的光，以引导到检测部分，并根据由检测部分检测的检测图像的形状变化依赖于目标相对于物镜的位移的特性来测量目标相对于物镜的位移。 | ||
| 搜索关键词： | 位移 测量 装置 | ||
【主权项】：
1、一种光位移测量装置，其用于引导来自光源的光通过具有物镜的光学系统到达目标，并用于通过检测部分检测从目标反射的光，从而测量目标相对于物镜的位移，其中：物镜是锥形透镜，其用于朝着目标推进所述光，并用于接收从目标反射的光到所述检测部分，以及根据由检测部分检测的检测图像的形状变化依赖于目标相对于物镜的位移的特性来测量目标相对于物镜的位移。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三丰株式会社，未经三丰株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200510064158.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：图像合成器和图像显示装置
- 下一篇：高强度低收缩的聚酯拉伸纱线及其制造方法
- 同类专利
- 专利分类
