[发明专利]从箔片分离半导体芯片的方法和用于安装半导体芯片的设备无效

专利信息
申请号: 200510064978.5 申请日: 2005-04-13
公开(公告)号: CN1716523A 公开(公告)日: 2006-01-04
发明(设计)人: 乔纳森·梅丁;马丁纳·勒斯滕伯格;马赛尔·尼德豪泽;丹尼尔·施内茨勒;罗兰德·斯塔尔德 申请(专利权)人: 优利讯国际贸易有限责任公司
主分类号: H01L21/00 分类号: H01L21/00;H01L21/68
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 钟强;谷惠敏
地址: 瑞士*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要: 在芯片推顶器(6)的支撑下从箔片(4)分离半导体芯片(1)并且从箔片(4)拾取半导体芯片(1),该芯片推顶器(6)具有斜面(16)和具有紧邻脱模边缘(18)设置的沟槽(12)的支撑区(13),斜面(16)表面(17)形成为凹面,并且终止于从芯片推顶器(6)的表面(9)突出的脱模边缘(18)。可以给沟槽(12)抽真空。半导体芯片(1)与箔片(4)的分离和拾取发生于:晶片平台(5)相对于芯片推顶器(6)移动,以便在从芯片推顶器(6)的表面(9)伸出的脱模边缘(18)拉箔片(4),从而半导体芯片(1)自身临时至少部分与箔片(4)分离,并且着陆于支撑区(13)之上的箔片(4)上,并且芯片抓手(7)拾取位于支撑区(13)上的半导体芯片(1)。
搜索关键词: 分离 半导体 芯片 方法 用于 安装 设备
【主权项】:
1.一种用于从箔片(4)分离半导体芯片(1)并且利用芯片抓手(7)从箔片(4)拾取半导体芯片(1)的方法,其中箔片(4)固定在晶片平台(5)上,并且箔片(4)的一部分位于芯片推顶器(6)的表面(9)上,其中芯片推顶器(6)包括具有沟槽(12)的支撑区(13)和具有脱模边缘(18)的斜面(16),所述脱模边缘(18)伸出于推顶器(6)的表面(9)上方,其中与脱模边缘(18)相邻的斜面(16)的表面(17)是凹陷的,该方法包括以下步骤:给支撑区(13)的沟槽(12)抽真空,在垂直于斜面(16)的脱模边缘(18)的方向上相对于芯片推顶器(6)移动晶片平台(5),以便在斜面(16)的脱模边缘(18)上拉箔片(4),从而半导体芯片(1)自身临时地至少部分与箔片(4)分离,并且着陆于支撑区(13)之上的箔片(4)上,和从箔片(4)拾取位于支撑区(13)上的半导体芯片(1)。
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