[发明专利]从箔片分离半导体芯片的方法和用于安装半导体芯片的设备无效
申请号: | 200510064978.5 | 申请日: | 2005-04-13 |
公开(公告)号: | CN1716523A | 公开(公告)日: | 2006-01-04 |
发明(设计)人: | 乔纳森·梅丁;马丁纳·勒斯滕伯格;马赛尔·尼德豪泽;丹尼尔·施内茨勒;罗兰德·斯塔尔德 | 申请(专利权)人: | 优利讯国际贸易有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;H01L21/68 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 钟强;谷惠敏 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 瑞士;CH |
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摘要: | 在芯片推顶器(6)的支撑下从箔片(4)分离半导体芯片(1)并且从箔片(4)拾取半导体芯片(1),该芯片推顶器(6)具有斜面(16)和具有紧邻脱模边缘(18)设置的沟槽(12)的支撑区(13),斜面(16)表面(17)形成为凹面,并且终止于从芯片推顶器(6)的表面(9)突出的脱模边缘(18)。可以给沟槽(12)抽真空。半导体芯片(1)与箔片(4)的分离和拾取发生于:晶片平台(5)相对于芯片推顶器(6)移动,以便在从芯片推顶器(6)的表面(9)伸出的脱模边缘(18)拉箔片(4),从而半导体芯片(1)自身临时至少部分与箔片(4)分离,并且着陆于支撑区(13)之上的箔片(4)上,并且芯片抓手(7)拾取位于支撑区(13)上的半导体芯片(1)。 | ||
搜索关键词: | 分离 半导体 芯片 方法 用于 安装 设备 | ||
【主权项】:
1.一种用于从箔片(4)分离半导体芯片(1)并且利用芯片抓手(7)从箔片(4)拾取半导体芯片(1)的方法,其中箔片(4)固定在晶片平台(5)上,并且箔片(4)的一部分位于芯片推顶器(6)的表面(9)上,其中芯片推顶器(6)包括具有沟槽(12)的支撑区(13)和具有脱模边缘(18)的斜面(16),所述脱模边缘(18)伸出于推顶器(6)的表面(9)上方,其中与脱模边缘(18)相邻的斜面(16)的表面(17)是凹陷的,该方法包括以下步骤:给支撑区(13)的沟槽(12)抽真空,在垂直于斜面(16)的脱模边缘(18)的方向上相对于芯片推顶器(6)移动晶片平台(5),以便在斜面(16)的脱模边缘(18)上拉箔片(4),从而半导体芯片(1)自身临时地至少部分与箔片(4)分离,并且着陆于支撑区(13)之上的箔片(4)上,和从箔片(4)拾取位于支撑区(13)上的半导体芯片(1)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造