[发明专利]自校准、多相机机器视觉测量系统有效
申请号: | 200510065545.1 | 申请日: | 2001-03-16 |
公开(公告)号: | CN1734231A | 公开(公告)日: | 2006-02-15 |
发明(设计)人: | 戴维·A·杰克逊;迈克尔·J·罗布;唐纳德·L·瓦尔查克 | 申请(专利权)人: | 捷装技术公司 |
主分类号: | G01B11/275 | 分类号: | G01B11/275;B25J9/16;G01C11/06;G01S5/16 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 樊卫民;关兆辉 |
地址: | 美国伊*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明公开了一种用于对具有第一测量设备和第二测量设备的机器测量系统进行校准的方法。第一校准设备被按照与第一测量设备的固定关系安装,第二校准设备被按照与第二测量设备的固定关系安装,且该第一测量设备和第二测量设备是基于图像的测量设备。在该方法中检测在第一校准设备和第二校准设备之间的相对位置的改变,并且基于在第一校准设备和第二校准设备之间的相对位置的改变更新表示第一测量设备和第二测量设备之间相对位置的数据。这种装置和方法提供了一种技术手段,用以对测量系统中所使用的两个或两个以上的相机的位置进行连续测量,并且利用这种测量对系统进行校准,其能够使机器视觉测量系统在安装时不进行现场校准的情况下得到使用。 | ||
搜索关键词: | 校准 多相 机器 视觉 测量 系统 | ||
【主权项】:
1.一种用于对具有第一测量设备和第二测量设备的机器测量系统进行校准的方法,而第一校准设备被按照与第一测量设备的固定关系安装,以及第二校准设备被按照与第二测量设备的固定关系安装,其中该第一测量设备和第二测量设备是基于图像的测量设备,该方法包括步骤:检测在第一校准设备和第二校准设备之间的相对位置的改变;以及基于在第一校准设备和第二校准设备之间的相对位置的改变更新表示第一测量设备和第二测量设备之间的相对位置的数据。
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