[发明专利]增强响应IC中信号的光发射的设备、系统和方法

摘要

本发明揭示用来利用如皮秒成像电路分析(PICA)增强响应集成电路(IC)内信号的光子发射以便观察信号状态的方法和设备。实施例中将置标连结到感兴趣的信号，并跨该置标施加电压以增强响应感兴趣的信号的光子发射。该电压大于可操作电路电压，Vdd，从而增强光子发射的强度和能量。因此，光子发射更能与噪声区分开来。在很多实施例中，置标包括晶体管，且在几个实施例中，该置标包括启用装置以便启用和禁用置标的光子发射。而且，PICA检测器可捕获置标的光子发射并处理光子以产生时间迹线。

主权项

1、一种增强响应工作的集成电路中信号的光子发射的装置，该装置包括：工作的集成电路的电路，其适于施加信号至导体，其中所述信号的幅值为第一电源电压或低于第一电源电压；和晶体管，其具有与第二电源电压耦合的沟道和与所述导体耦合的栅极，从而响应所述信号加速通过沟道的载流子，其中所述第二电源电压大于第一电源电压以通过载流子产生光子发射。