[发明专利]接触窗开口的形成方法与半导体元件的制造方法无效
申请号: | 200510065576.7 | 申请日: | 2005-04-18 |
公开(公告)号: | CN1855377A | 公开(公告)日: | 2006-11-01 |
发明(设计)人: | 黄明山;王炳尧;赖亮全 | 申请(专利权)人: | 力晶半导体股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/30 | 分类号: | H01L21/30;H01L21/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 陶凤波;侯宇 |
地址: | 台湾省*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种接触窗开口的形成方法,此方法先提供基底,此基底上已形成有多个元件结构,且此元件结构与基底表面上覆盖有第一介电层与导体层,而且导体层于两相邻元件结构之间具有一凹陷处。之后,于凹陷处形成一对复合间隙壁。继之,以复合间隙壁为掩模,移除裸露的部分导体层,以于相邻二元件结构之间形成多个开口。之后,于开口的导体层侧壁上形成第二介电层。在于基底上形成第三介电层后,移除部分的第三介电层以及位于开口底部的第一介电层以形成自行对准接触窗开口。 | ||
搜索关键词: | 接触 开口 形成 方法 半导体 元件 制造 | ||
【主权项】:
1、一种接触窗开口的形成方法,包括:提供一基底,该基底上已形成有多个元件结构,且该些元件结构与该基底表面上依序覆盖有一第一介电层与一导体层,而且该导体层于两相邻元件结构之间具有一凹陷处;于该凹陷处形成一对复合间隙壁(Composite Spacer),该复合间隙壁由位于下层的一间隙壁材料层与位于上层的一间隙壁保护层所构成,且该导体层对该间隙壁保护层的蚀刻选择比大于该导体层对该间隙壁材料层的蚀刻选择比;以该复合间隙壁为掩模,移除裸露的部分该导体层,以于相邻二该些元件结构之间的该导体层中形成多个开口;于该些开口的该导体层侧壁上形成一第二介电层;于该基底上形成一第三介电层,覆盖该些元件结构与该导体层;以及移除部分该第三介电层以及位于该些开口底部的该第一介电层以形成多个自行对准接触窗开口。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于力晶半导体股份有限公司,未经力晶半导体股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200510065576.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:通信指纹系统及通信指纹采集、管理方法
- 下一篇:复合型布袋除尘装置
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造