[发明专利]具有自行对准接触窗的半导体元件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200510065580.3 申请日: 2005-04-18
公开(公告)号: CN1855371A 公开(公告)日: 2006-11-01
发明(设计)人: 黄明山;许汉杰;姚永中 申请(专利权)人: 力晶半导体股份有限公司
主分类号: H01L21/28 分类号: H01L21/28;H01L21/768;H01L21/76;H01L21/31
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 陶凤波;侯宇
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种具有自行对准接触窗的半导体元件的制造方法。首先,于基底上形成多个隔离结构,以定义出有源区。接着,于基底上形成多个栅极结构。然后,于各栅极结构侧边的基底中,形成多个掺杂区。之后,于各栅极结构的侧壁上,形成多个第一间隙壁,并且于各隔离结构的侧壁上,形成多个第二间隙壁。接下来,于基底上形成介电层。再来,进行自行对准工艺,以于相邻二栅极结构之间的介电层中,形成多个接触窗开口。之后,再于接触窗开口中填入导电材料。
搜索关键词: 具有 自行 对准 接触 半导体 元件 及其 制造 方法
【主权项】:
1、一种具有自行对准接触窗的半导体元件的制造方法,包括:于一基底上形成多个隔离结构,而定义出一有源区,其中各该隔离结构的顶部与该基底表面相距一距离;于该基底上形成多个栅极结构;于各该栅极结构侧边的该基底中形成多个掺杂区;于各该栅极结构的侧壁上形成多个第一间隙壁,并且于各该隔离结构的侧壁上形成多个第二间隙壁;该基底上形成一介电层,覆盖该基底、该些栅极结构、该些隔离结构、该些第一间隙壁与该些第二间隙壁;进行一自行对准工艺,以于相邻二该些栅极结构之间的该介电层中形成多个接触窗开口,而暴露出该些掺杂区;以及于该些接触窗开口中填入一导电材料。
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