[发明专利]具有自行对准接触窗的半导体元件及其制造方法有效
申请号: | 200510065580.3 | 申请日: | 2005-04-18 |
公开(公告)号: | CN1855371A | 公开(公告)日: | 2006-11-01 |
发明(设计)人: | 黄明山;许汉杰;姚永中 | 申请(专利权)人: | 力晶半导体股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/28 | 分类号: | H01L21/28;H01L21/768;H01L21/76;H01L21/31 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 陶凤波;侯宇 |
地址: | 台湾省*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种具有自行对准接触窗的半导体元件的制造方法。首先,于基底上形成多个隔离结构,以定义出有源区。接着,于基底上形成多个栅极结构。然后,于各栅极结构侧边的基底中,形成多个掺杂区。之后,于各栅极结构的侧壁上,形成多个第一间隙壁,并且于各隔离结构的侧壁上,形成多个第二间隙壁。接下来,于基底上形成介电层。再来,进行自行对准工艺,以于相邻二栅极结构之间的介电层中,形成多个接触窗开口。之后,再于接触窗开口中填入导电材料。 | ||
搜索关键词: | 具有 自行 对准 接触 半导体 元件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1、一种具有自行对准接触窗的半导体元件的制造方法,包括:于一基底上形成多个隔离结构,而定义出一有源区,其中各该隔离结构的顶部与该基底表面相距一距离;于该基底上形成多个栅极结构;于各该栅极结构侧边的该基底中形成多个掺杂区;于各该栅极结构的侧壁上形成多个第一间隙壁,并且于各该隔离结构的侧壁上形成多个第二间隙壁;该基底上形成一介电层,覆盖该基底、该些栅极结构、该些隔离结构、该些第一间隙壁与该些第二间隙壁;进行一自行对准工艺,以于相邻二该些栅极结构之间的该介电层中形成多个接触窗开口,而暴露出该些掺杂区;以及于该些接触窗开口中填入一导电材料。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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