[发明专利]非挥发性存储器及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200510065586.0 申请日: 2005-04-18
公开(公告)号: CN1855505A 公开(公告)日: 2006-11-01
发明(设计)人: 张格荥;黄丘宗 申请(专利权)人: 力晶半导体股份有限公司
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115;H01L29/788;H01L21/8247
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 陶凤波;侯宇
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种非挥发性存储器,由基底、辅助栅极结构、字线、浮置栅极、穿隧介电层、栅间介电层与源极区/漏极区所构成。辅助栅极结构设置于基底上,且辅助栅极结构的底部宽度大于顶部宽度。浮置栅极设置于辅助栅极结构的一侧,且位于字线与基底之间,浮置栅极的底部宽度小于顶部宽度。字线、浮置栅极与辅助栅极结构构成一存储单元。穿隧介电层设置于浮置栅极与基底之间。栅间介电层设置于字线、浮置栅极与辅助栅极结构之间。源极区/漏极区设置于存储单元两侧的基底中。
搜索关键词: 挥发性 存储器 及其 制造 方法
【主权项】:
1、一种非挥发性存储器,包括:一基底;一辅助栅极,设置于该基底上,该辅助栅极的底部具有一第一宽度,顶部具有一第二宽度,该第一宽度大于第二宽度;一栅介电层,设置于该辅助栅极与该基底之间;一字线,设置于该基底上;一浮置栅极,设置于该辅助栅极的一侧,且位于该字线与该基底之间,该浮置栅极的底部具有一第三宽度,顶部具有一第四宽度,该第四宽度大于第三宽度,该辅助栅极、该浮置栅极与该字线构成一存储单元;一穿隧介电层,设置于该浮置栅极与该基底之间;一栅间介电层,设置于该字线与该浮置栅极之间、该字线与该辅助栅极之间以及该辅助栅极与该浮置栅及之间;以及一源极区/漏极区,设置于该存储单元两侧的该基底中。
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