[发明专利]线径的无接触测量方法和实施该方法的装置无效
申请号: | 200510065658.1 | 申请日: | 2005-03-01 |
公开(公告)号: | CN1766589A | 公开(公告)日: | 2006-05-03 |
发明(设计)人: | 蒂埃里·贝托诺;塞巴斯蒂安·瓦莱 | 申请(专利权)人: | 菲尔孔特雷尔 |
主分类号: | G01N21/89 | 分类号: | G01N21/89 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 周国城 |
地址: | 法国拉*** | 国省代码: | 法国;FR |
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摘要: | 本发明提供一种在一个平面中测量线(10)的至少一个截面直径的方法,所述截面与所述线(10)的行进方向基本垂直的,该方法在于从假源A发射至少一个散射光束(12),以便在至少一个接收器(14)的表面上获得线的至少一个图像,并测量所述至少一个图像,其特征在于该方法用下面的方法设置至少一个假源和所述相关的接收器:当线的截面在一个测量窗中移动时,使线的图像的测量值基本不变,或者至少其波动保持在对应于所需测量的精度范围IT内。 | ||
搜索关键词: | 接触 测量方法 实施 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种在一个平面中测量线(10)的至少一个截面直径的方法,所述截面与所述线(10)的行进方向基本垂直的,该方法在于从假源A发射至少一个散射光束(12),以便在至少一个接收器(14)的表面上获得线的至少一个图像,并测量所述至少一个图像,其特征在于该方法用下面的方法设置至少一个假源和所述相关的接收器:当线的截面在一个测量窗中移动时,使线的图像的测量值基本不变,或者至少其波动保持在对应于所需测量的精度范围IT内。
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