[发明专利]光学头力矩器的轴向旋转缺陷的检测方法

摘要

本发明涉及一种光学头力矩器的轴向旋转缺陷的检测方法，属于光存储设备性能测试技术领域。首先在不同频率下输出正弦信号；驱动力矩器在聚焦方向或循迹方向产生抖动；使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得该点处的抖动速度；对速度信号进行积分，得到该点在正弦信号激励下的位移响应信号，绘制力矩器聚焦线圈和循迹线圈的幅值频率特性曲线，并得到力矩器聚焦线圈和循迹线圈的一阶共振频率；根据力矩器聚焦线圈和循迹线圈的幅值频率特性曲线判断力矩器的轴向旋转缺陷。本发明提出的光学头力矩器的轴向旋转缺陷的检测方法，用于及时改进生产工艺，保证产品质量。

主权项

1、一种光学头力矩器的轴向旋转缺陷的检测方法，其特征在于该方法包括以下各步骤：(1)在由低到高的不同频率f下分别输出固定幅值A的正弦信号；(2)力矩器在上述正弦信号的驱动下在聚焦方向或循迹方向产生抖动；(3)使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得物镜上该反射点处的聚焦方向或循迹方向的抖动速度；(4)对上述速度信号进行积分，得到该点在上述频率为f的正弦信号激励下在聚焦方向或循迹方向的位移响应信号为Y(f)＝B(f)∠φ(f)，其中B(f)是力矩器在相应频率为f的正弦信号驱动下聚焦方向或循迹方向的位移响应信号的幅值，φ(f)是力矩器在相应频率为f的正弦信号驱动下聚焦方向或循迹方向位移响应信号与该正弦信号之间的相位差；(5)绘制力矩器聚焦线圈和循迹线圈的幅值频率特性曲线，特性曲线的横坐标为正弦信号的相应频率f，纵坐标为与该频率f相对应的幅值响应(6)在上述幅值频率特性曲线上，得到力矩器聚焦线圈或循迹线圈的一阶共振频率f0，即幅值频率特性曲线上与低频段第一个共振峰对应的横坐标频率；(7)根据力矩器聚焦线圈的幅值频率特性曲线进行判断，若在一阶共振频率f0 至1KHz频率范围内，出现第二共振峰，则力矩器的X方向存在可动部件沿X向轴向旋转的缺陷；(8)根据力矩器循迹线圈的幅值频率特性曲线进行判断，若在一阶共振频率f0 至1KHz频率范围内出现第三共振峰，则力矩器的Y方向存在可动部件沿Y向轴向旋转的缺陷，若出现第一共振峰，则力矩器的Z方向存在可动部件沿Z向轴向旋转的缺陷。