[发明专利]画素结构及其修补方法有效

专利信息
申请号: 200510066175.3 申请日: 2005-04-21
公开(公告)号: CN1673842A 公开(公告)日: 2005-09-28
发明(设计)人: 黄韦凯;陈奕任;赖梓杰;王炯宾 申请(专利权)人: 友达光电股份有限公司
主分类号: G02F1/136 分类号: G02F1/136;G02F1/133;H01L29/786
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 代理人: 寿宁;张华辉
地址: 中国*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种画素结构,包括主动元件、画素电极、下电极、多个上电极、第一介电层以及第二介电层。其中,画素电极与主动元件电性连接,下电极配置于画素电极下方,而上电极配置于下电极与画素电极之间,且上电极与画素电极电性连接。上电极与下电极重迭的总面积为A,而画素电极与每一上电极重迭的部分包括接触区以及备用区,且备用区的总面积为B。另外,第一介电层配置于下电极与上电极之间,而第二介电层配置于上电极与画素电极之间,其中第一介电层的介电常数与厚度分别为ε1、d1,而第二介电层的介电常数与厚度分别为ε2、d2,且0.5<(ε1·d2·A)/(ε2·d1·B)<1.5。
搜索关键词: 结构 及其 修补 方法
【主权项】:
1、一种画素结构,适于与一扫瞄配线以及一资料配线电性连接,其特征在于其包括:一主动元件;一画素电极,与该主动元件电性连接;一下电极,配置于该画素电极下方;多个上电极,配置于该下电极与该画素电极之间,且该上电极是与该画素电极电性连接,其中该上电极与该下电极重迭的总面积为A,而该画素电极与每一上电极重迭的部分包括一接触区以及一备用区,且该备用区的总面积为B;一第一介电层,至少配置于该下电极与该上电极之间,其中该第一介电层的介电常数为ε1,而该第一介电层的厚度为d1;;以及一第二介电层,至少配置于该上电极与该画素电极之间,其中该第二介电层的介电常数为ε2,而该第二介电层的厚度为d2,且0.5<(ε1·d2·A)/(ε2·d1·B)<1.5。
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