[发明专利]具有基于沟槽的栅电极的场效应晶体管及其形成方法无效

专利信息
申请号: 200510067019.9 申请日: 2005-04-20
公开(公告)号: CN1691330A 公开(公告)日: 2005-11-02
发明(设计)人: 河在圭;朴钟撤 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L27/04 分类号: H01L27/04;H01L27/108;H01L29/78;H01L21/28;H01L21/8234
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 林宇清;谢丽娜
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明的实施例包括利用具有基于沟槽的栅电极的场效应晶体管的动态随机存取存储器(DRAM)器件。在这些器件中,提供其中具有隔离槽的半导体衬底。在半导体衬底的第一部分中形成该隔离槽。在隔离槽的底部和侧壁上设置电绝缘里衬。隔离槽还用场氧化区填充,场氧化区在电绝缘里衬上延伸。在半导体衬底中还设置场效应晶体管。该晶体管包括半导体衬底的第二部分中的栅电极沟槽,以及内衬栅电极沟槽的底部和侧壁的栅绝缘层。在栅电极沟槽中设置了栅电极。栅电极接触隔离槽和栅绝缘层中的电绝缘里衬。源区和漏区在半导体衬底中延伸并邻近栅电极。
搜索关键词: 具有 基于 沟槽 电极 场效应 晶体管 及其 形成 方法
【主权项】:
1.一种集成电路器件,包括:半导体衬底;半导体衬底的第一部分中的隔离槽;隔离槽的底部和侧壁上的电绝缘里衬;电绝缘里衬上的场氧化区;以及半导体衬底中的场效应晶体管,该晶体管包括半导体衬底的第二部分中的栅电极沟槽,内衬栅电极沟槽的底部和侧壁的栅绝缘层,在栅电极沟槽中延伸并接触电绝缘里衬和栅绝缘层的栅电极,以及在半导体衬底中延伸并邻近栅电极的源区和漏区。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社,未经三星电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200510067019.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top