[发明专利]半导体装置以及其制造方法、集成电路、电光学装置、电子设备有效

专利信息
申请号: 200510067311.0 申请日: 2005-04-18
公开(公告)号: CN1684230A 公开(公告)日: 2005-10-19
发明(设计)人: 阿部大介 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: H01L21/20 分类号: H01L21/20;H01L21/336;H01L21/304;H01L29/78
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 李香兰
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供在薄膜晶体管等的半导体装置中,可以避免在半导体膜的边缘部分的电场集中,使可靠性提高的技术。其是使用层叠了半导体膜、绝缘膜以及电极的构造的场效应型半导体装置的制造方法。包括:第1工序,在至少一面为绝缘性的基板(10)的该面上,形成岛状半导体膜(12)的;第2工序,在基板的一面上,形成第1绝缘膜(14),以覆盖半导体膜而且使在半导体膜的上部以外的部分的膜厚和该半导体膜的膜厚大致相同或者大于此膜厚;第3工序,使第1绝缘膜的至少在半导体膜上部区域的膜厚减小;第4工序,形成电极(18),以使其在使膜厚减小之后的第1绝缘膜的上部并贯通半导体膜的规定位置的上部。
搜索关键词: 半导体 装置 及其 制造 方法 集成电路 光学 电子设备
【主权项】:
1、一种半导体装置的制造方法,是使用层叠了半导体膜、绝缘膜以及电极的构造的场效应型半导体装置的制造方法;其特征在于,包括:第1工序,在至少一面为绝缘性的基板的该面上形成岛状半导体膜;第2工序,在所述基板的一面上,形成第1绝缘膜,以覆盖所述半导体膜而且在所述半导体膜的上部以外部分的膜厚和该半导体膜的膜厚大致相同或者大于此膜厚;第3工序,使所述第1绝缘膜的至少在所述半导体膜的上部的区域的膜厚减小;和第4工序,形成电极,使其在使膜厚减小之后的所述第1绝缘膜的上部并贯通所述半导体膜规定位置的上部。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于精工爱普生株式会社,未经精工爱普生株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200510067311.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top