[发明专利]一种针对商用塑封器件空间应用的筛选方法有效
申请号: | 200510068030.7 | 申请日: | 2005-04-30 |
公开(公告)号: | CN1858604A | 公开(公告)日: | 2006-11-08 |
发明(设计)人: | 姜秀杰;孙辉先;陈小敏;赵天麟;王志华 | 申请(专利权)人: | 中国科学院空间科学与应用研究中心 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;B07C5/00 |
代理公司: | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 | 代理人: | 高存秀 |
地址: | 100084北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及针对商用塑封器件空间应用的筛选方法,包括依次进行的筛选测试、可靠性计算和依次进行的辐射测试、抗辐射加固,以及根据上述测试结果、可靠性计算和抗辐射加固结果进行的评估。本发明与现有技术相比更加系统化,可以有效的节约时间,节省费用。本发明的筛选测试方法,对选定的商用塑封器件实施100%非破坏性筛选试验,剔除具有潜在缺陷的早期失效产品,可以提高批产品的可靠性。通过可靠性计算,获得该商用塑封器件应用于某一特定的空间任务的可靠度,可以定量地确定该产品是否可以应用于空间任务。通过辐射测试,可以获得器件的抗总剂量能力和单粒子翻转率,从而可以采取有效的措施进行抗辐射加固设计。 | ||
搜索关键词: | 一种 针对 商用 塑封 器件 空间 应用 筛选 方法 | ||
【主权项】:
1.针对商用塑封器件空间应用的筛选方法,其特征在于,包括以下步骤:1)进行筛选测试;所述筛选测试是对选定的商用塑封器件实施100%非破坏性筛选试验,剔除具有潜在缺陷的早期失效产品;2)在筛选测试后进行可靠性计算;所述可靠性计算是根据元器件种类的不同,建立元器件的失效率模型,从而计算出元器件在特定空间任务中的失效率和可靠度;3)进行辐射测试;所述辐射测试是对选定的商用塑封器件进行总剂量测试和单粒子事件测试,获得器件的抗总剂量能力和单粒子翻转率;4)在辐射测试后进行抗辐射加固;所述抗辐射加固是根据辐射测试的结果,在设计上采取相应的加固措施,提高器件抗辐射总剂量水平和抗单粒子效应的能力;5)根据上述测试结果、可靠性计算和抗辐射加固结果进行的评估。
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