[发明专利]非易失性存储器元件无效

专利信息
申请号: 200510068934.X 申请日: 2000-01-19
公开(公告)号: CN1691338A 公开(公告)日: 2005-11-02
发明(设计)人: 宿利章二;小森和宏;奥山幸祐;久保田胜彦 申请(专利权)人: 株式会社日立制作所
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115;H01L27/105;G11C16/06
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王永刚
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种非易失性存储器元件,包括:半导体衬底;在所述半导体衬底中形成的第一导电型的第一阱区;在所述半导体衬底中形成的第二导电型的第二阱区;在第一阱区中形成的第二导电型的源区,该源区将与源线连接;在第一阱区中形成的第二导电型的漏区,该漏区将与数据线连接;第一绝缘膜,该第一绝缘膜形成在位于所述源区和所述漏区之间的所述第一阱区的一部分主表面上;第二绝缘膜,该第二绝缘膜形成在所述第二阱区的主表面上;在所述第一和第二绝缘膜上形成的栅极;在所述第二阱区中形成的第一区,该第一区将与字线连接;和在所述第一阱区中形成的第二区,该第二区用以将电位馈送给所述第一阱区;其中在所述栅极上所聚集的电子将被释放时,所述源区的电位被设定为相对高于所述第一区、所述第二区和所述漏区的电位。
搜索关键词: 非易失性存储器 元件
【主权项】:
1.一种非易失性存储器元件,包括:半导体衬底;在所述半导体衬底中形成的第一导电型的第一阱区;在所述半导体衬底中形成的第二导电型的第二阱区;在第一阱区中形成的第二导电型的源区,该源区将与源线连接;在第一阱区中形成的第二导电型的漏区,该漏区将与数据线连接;第一绝缘膜,该第一绝缘膜形成在位于所述源区和所述漏区之间的所述第一阱区的一部分主表面上;第二绝缘膜,该第二绝缘膜形成在所述第二阱区的主表面上;在所述第一和第二绝缘膜上形成的栅极;在所述第二阱区中形成的第一区,该第一区将与字线连接;和在所述第一阱区中形成的第二区,该第二区用以将电位馈送给所述第一阱区;其中在所述栅极上所聚集的电子将被释放时,所述源区的电位被设定为相对高于所述第一区、所述第二区和所述漏区的电位。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社日立制作所,未经株式会社日立制作所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200510068934.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top