[发明专利]非易失性存储器元件无效
申请号: | 200510068934.X | 申请日: | 2000-01-19 |
公开(公告)号: | CN1691338A | 公开(公告)日: | 2005-11-02 |
发明(设计)人: | 宿利章二;小森和宏;奥山幸祐;久保田胜彦 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立制作所 |
主分类号: | H01L27/115 | 分类号: | H01L27/115;H01L27/105;G11C16/06 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 王永刚 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种非易失性存储器元件,包括:半导体衬底;在所述半导体衬底中形成的第一导电型的第一阱区;在所述半导体衬底中形成的第二导电型的第二阱区;在第一阱区中形成的第二导电型的源区,该源区将与源线连接;在第一阱区中形成的第二导电型的漏区,该漏区将与数据线连接;第一绝缘膜,该第一绝缘膜形成在位于所述源区和所述漏区之间的所述第一阱区的一部分主表面上;第二绝缘膜,该第二绝缘膜形成在所述第二阱区的主表面上;在所述第一和第二绝缘膜上形成的栅极;在所述第二阱区中形成的第一区,该第一区将与字线连接;和在所述第一阱区中形成的第二区,该第二区用以将电位馈送给所述第一阱区;其中在所述栅极上所聚集的电子将被释放时,所述源区的电位被设定为相对高于所述第一区、所述第二区和所述漏区的电位。 | ||
搜索关键词: | 非易失性存储器 元件 | ||
【主权项】:
1.一种非易失性存储器元件,包括:半导体衬底;在所述半导体衬底中形成的第一导电型的第一阱区;在所述半导体衬底中形成的第二导电型的第二阱区;在第一阱区中形成的第二导电型的源区,该源区将与源线连接;在第一阱区中形成的第二导电型的漏区,该漏区将与数据线连接;第一绝缘膜,该第一绝缘膜形成在位于所述源区和所述漏区之间的所述第一阱区的一部分主表面上;第二绝缘膜,该第二绝缘膜形成在所述第二阱区的主表面上;在所述第一和第二绝缘膜上形成的栅极;在所述第二阱区中形成的第一区,该第一区将与字线连接;和在所述第一阱区中形成的第二区,该第二区用以将电位馈送给所述第一阱区;其中在所述栅极上所聚集的电子将被释放时,所述源区的电位被设定为相对高于所述第一区、所述第二区和所述漏区的电位。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社日立制作所,未经株式会社日立制作所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200510068934.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的