[发明专利]用于测试循环冗余码算法的测试数据模式无效
| 申请号： | 200510069363.1 | 申请日： | 2005-05-13 |
| 公开（公告）号： | CN1750411A | 公开（公告）日： | 2006-03-22 |
| 发明（设计）人： | 维森特·V·卡万纳;杰弗里·R·墨菲;迪伦·杰克逊 | 申请（专利权）人： | 安捷伦科技有限公司 |
| 主分类号： | H03M13/01 | 分类号： | H03M13/01;H03M13/09;H03M13/00 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 王怡 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种产生用于测试CRC算法的测试数据模式的方法，该CRC算法被配置成基于生成多项式产生CRC值，该方法包括标识出中间CRC值的期望模式。该方法包括基于中间CRC值的期望模式和生成多项式产生测试数据模式，其中测试数据模式被配置成引发CRC算法来产生中间CRC值的期望模式。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 循环 冗余 算法 测试数据 模式 | ||
【主权项】：
1.一种产生用于测试循环冗余码算法的测试数据模式的方法，所述循环冗余码算法被配置成基于生成多项式产生循环冗余码值，所述方法包括：标识出中间循环冗余码值的期望模式；以及基于中间循环冗余码值的所述期望模式和所述生成多项式来产生测试数据模式，其中所述测试数据模式被配置成引发所述循环冗余码算法来产生中间循环冗余码值的所述期望模式。
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