[发明专利]半导体器件无效
申请号: | 200510070829.X | 申请日: | 2005-05-19 |
公开(公告)号: | CN1700467A | 公开(公告)日: | 2005-11-23 |
发明(设计)人: | 芳村淳;小牟田直幸;沼田英夫 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | H01L25/065 | 分类号: | H01L25/065;H01L25/07;H01L25/18;H01L23/12 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 | 代理人: | 陈海红;段承恩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种半导体器件,其特征在于,具备:具有电极部的基板;第1半导体元件,具有通过第1键合引线连接在所述电极部上的第1电极焊盘,并且粘接在所述基板上;以及第2半导体元件,具有通过第2键合引线连接在所述电极部上的第2电极焊盘,并且用由同一材料形成且弹性率不同的2层结构的粘接剂层粘接到所述第1半导体元件上。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 | ||
【主权项】:
1.一种半导体器件,其特征在于,具备:具有电极部的基板;第1半导体元件,具有通过第1键合引线连接在所述电极部上的第1电极焊盘,并且粘接在所述基板上;以及第2半导体元件,具有通过第2键合引线连接在所述电极部上的第2电极焊盘,并且用由同一材料形成且弹性率不同的2层结构的粘接剂层粘接到所述第1半导体元件上。
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