[发明专利]用于检测埋入的磁性物体的检测器有效
申请号: | 200510071660.X | 申请日: | 2005-05-12 |
公开(公告)号: | CN1794012A | 公开(公告)日: | 2006-06-28 |
发明(设计)人: | 金平 | 申请(专利权)人: | 利宇TEC株式会社 |
主分类号: | G01V3/08 | 分类号: | G01V3/08 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 吴立明;张志醒 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 公开了一种用于检测埋入物体的检测器,该检测器通过检测附加于该埋入物体上的强磁性标记产生的磁场能够精确地测量埋入物体的位置,该检测器包括:具有第一至第四检测传感器的检测部分和用于对来自检测传感器的信号进行平行处理的处理器,所述传感器顺序地沿直线排列在相对于埋入物体取向的探头中,这些传感器从探头的远端相互间隔开;和主处理器,用于根据检测部分的信号判定埋入物体是强磁性材料还是弱磁性材料。该主处理器比较位于探头不同位置上的第一传感器至第四传感器的检测结果以判定埋入物体是强磁性材料还是弱磁性材料。 | ||
搜索关键词: | 用于 检测 埋入 磁性 物体 检测器 | ||
【主权项】:
1.一种用于检测埋入物体的检测器,该检测器通过检测附加于该埋入物体上的强磁性标记产生的磁场能够精确地测量埋入物体的位置,该检测器包括:具有第一至第四检测传感器的检测部分和用于对来自检测传感器的信号进行平行处理的处理器,所述传感器顺序地沿直线排列在相对于埋入物体取向的探头中,这些传感器从探头的远端相互间隔开,主处理器,用于根据检测部分的信号判定埋入物体是强磁性材料还是弱磁性材料,其中该主处理器比较位于探头不同位置上的第一传感器至第四传感器的检测结果以判定埋入物体是强磁性材料还是弱磁性材料。
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