[发明专利]晶体消光比半波电压及波片相位延迟的智能综合测量仪

摘要

一种晶体消光比半波电压及波片相位延迟的智能综合测量仪，其构成是：在一脉冲调制光源的光束前进方向呈45°地设一分光镜，在该分光镜的透射方向依次是起偏器、待测样品、检偏器、第一光电探测器、第一解调及放大电路和第一A/D转换器，该第一A/D转换器的信号线接计算机；该计算机的第一输出通过第一步进电机驱动检偏器绕光轴旋转，该计算机的第二输出通过第二步进电机驱动待测样品绕光轴旋转；在分光镜的反射方向依次是衰减片、第二光电探测器、第二解调及放大电路、第二A/D转换器，该第二A/D转换器的信号线接计算机。本发明不仅能在一台仪器完成多个参数的综合测量，而且具有测量精度高、可靠性好、操作方便的特点。

主权项

1、一种智能化晶体消光比、半波电压和波片相位延迟的综合测量仪，特征在于其构成：一脉冲调制光源(1)，在该脉冲调制光源(1)的光束前进方向呈45°设一分光镜(2)，在该分光镜(2)的透射方向依次是起偏器(3)、待测样品(4)、检偏器(5)、第一光电探测器(6)、第一解调及放大电路(7)和第一A/D转换器(8)，该第一A/D转换器(8)的信号线接计算机(9)的第一输入端；该计算机(9)的第一输出通过第一步进电机(10)驱动检偏器(5)绕光轴旋转运动，该计算机(9)的第二输出通过第二步进电机(11)驱动待测样品(4)绕光轴旋转运动；在所述分光镜(2)的反射方向依次是衰减片(12)、第二光电探测器(13)、第二解调及放大电路(14)、第二A/D转换器(15)，该第二A/D转换器(15)的信号线接计算机(9)的第二输入端。