[发明专利]电光学装置、其检查方法以及电子设备有效
| 申请号： | 200510072749.8 | 申请日： | 2005-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN1700284A | 公开（公告）日： | 2005-11-23 |
| 发明（设计）人： | 今村阳一 | 申请（专利权）人： | 精工爱普生株式会社 |
| 主分类号： | G09G3/30 | 分类号： | G09G3/30;G01R31/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 李香兰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种电光学装置。各单位电路(U)包括OLED元件(16)和控制其动作的控制电路(15)。在检查端子(TPa1)输入为了试验性地驱动OLED元件(16)的检查信号。多个单位电路(U)之中，位于有效区域(A)的边角的检查单位电路(Ut)连接了开关元件(41)。此开关元件(41)使检查单位电路(Ut)的OLED元件(16)和检查端子(TPa1)电绝缘的关断状态切换为检查单位电路(Ut)的OLED元件(16)和检查端子(TPa1)电导通的导通状态。由此，能有效地检查包括电光学装置和控制电路的多个单位电路。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 装置 检查 方法 以及 电子设备 | ||
【主权项】：
1、一种电光学装置，其特征在于，具备：分别具有电光学元件和控制相应电光学元件的控制电路的多个单位电路；被输入用于驱动所述电光学元件的检查信号的检查端子；和检查信号提供元件，其被设置在所述多个单位电路之中作为检查对象被选择的检查单位电路的电光学元件与所述检查端子之间，取得第1状态和第2状态，其中第1状态是使所述检查单位电路的电光学元件与所述检查端子电绝缘的状态，第2状态是使所述检查单位电路的所述电光学元件与所述检查端子电导通的状态。
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