[发明专利]一种高光功率密度808nm大功率量子阱半导体激光器无效

专利信息
申请号: 200510072922.4 申请日: 2005-05-20
公开(公告)号: CN1866652A 公开(公告)日: 2006-11-22
发明(设计)人: 王俊;马骁宇 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01S5/343 分类号: H01S5/343;H01S5/20
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 段成云
地址: 100083北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及半导体激光器技术领域,一种高光功率密度808nm大功率量子阱半导体激光器结构提出了一种高光功率密度808nm大功率量子阱半导体激光器结构,包括衬底1,缓冲层2,N型下限制层3,下波导层4,下垒层5,量子阱层6,上垒层7,上波导层8,P型上限制层9,过渡层10,电极接触层11。它能够得到高质量的外延片材料,降低波导层和限制层材料的铝组分,从而提高激光器的输出光功率密度。
搜索关键词: 一种 功率密度 808 nm 大功率 量子 半导体激光器
【主权项】:
1、一种高光功率密度808nm大功率量子阱半导体激光器结构,其特征在于,包括:一衬底(1),该衬底用于在其上进行激光器各层材料外延生长,衬底是(100)面的N型镓砷;一缓冲层(2),该缓冲层制作在衬底(1)上,为N-镓砷材料;一N型下限制层(3),该N型下限制层制作在缓冲层(2)上,为N-铝镓砷材料;一下波导层(4),该下波导层制作在下限制层(3)上,为N-铝镓砷材料;一下垒层(5),该下垒层制作在下波导层(4)上,为铟镓砷磷材料;一量子阱层(6),该量子阱层制作在下垒层(5)上,为镓砷磷材料;一上垒层(7),该上垒层制作在量子阱层(6)上,为铟镓砷磷材料;一上波导层(8),该上波导层制作在上垒层(7)上,为P-磷镓砷材料;一P型上限制层(9),该P型上限制层制作在上波导层(8)上,为P-铝镓砷材料;一过渡层(10),该过渡层制作在P型上限制层(9)上,为P-镓砷材料;一电极接触层(11),该电极接触层(11)制作在过渡层(10)之上,为P-镓砷材料。
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