[发明专利]具多晶方向的CMOS逻辑闸及其形成方法有效

专利信息
申请号: 200510073470.1 申请日: 2005-05-30
公开(公告)号: CN1722439A 公开(公告)日: 2006-01-18
发明(设计)人: 陈宏玮;吴炳坤;王昭雄;杨富量;胡正明 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L27/092 分类号: H01L27/092;H01L27/12;H01L29/78
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 代理人: 寿宁;张华辉
地址: 台湾省新竹科学*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明是有关于一种具多晶方向的CMOS逻辑闸及其形成方法,是一种使用SOI与混合基材方向形成CMOS元件的方法。依照本发明的一较佳实施例,基材可具有多种结晶方向。基材中的逻辑闸可包括位于一结晶方向上的至少一N-FET及位于另一结晶方向上的至少一P-FET。基材中的另一逻辑闸可包括位于相同结晶方向上的至少一N-FET及至少一P-FET。而在本发明的其他较佳实施例中,则更包括确定基材的较佳分裂平面,以及定位相对于彼此的基材,以考量其的个别较佳分裂平面。其中,分裂平面较佳的为不平行。
搜索关键词: 多晶 方向 cmos 逻辑 及其 形成 方法
【主权项】:
1、一种半导体元件,其至少包含:一基材,该基材具有一第一区与一第二区,该第一区具有一第一结晶方向,该第二区具有一第二结晶方向,其中该第二结晶方向不同于该第一结晶方向;一第一逻辑闸,形成于该第一区上;以及一第二逻辑闸,形成于该第二区上,其中该第一区具有一第一较佳分裂平面,该第二区具有一第二较佳分裂平面,而该第一较佳分裂平面不平行于该第二较佳分裂平面。
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