[发明专利]短路检测电路和短路检测方法无效
| 申请号： | 200510075543.0 | 申请日： | 2005-06-03 |
| 公开（公告）号： | CN1705096A | 公开（公告）日： | 2005-12-07 |
| 发明（设计）人： | 铃木雄三 | 申请（专利权）人： | 恩益禧电子股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 穆德骏;陆锦华 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 在高电压系统的情况下用于判断随时间逝去的短路缺陷的电路和方法。用于检测短路缺陷的专用于检测的布线位于第一高电压布线和第二高电压布线之间。电源和电流表串连连接，其一端连接到高电压布线并且其另一端连接到专用于检测的布线。如果当电源接通时，电流值高于预定值，那么可以判断该电路具有随时间逝去的短路缺陷的高可能性。 | ||
| 搜索关键词： | 短路 检测 电路 方法 | ||
【主权项】：
1.一种短路检测电路，包括：第一互连，第二互连；以及第一检测互连，其位于所述第一互连和所述第二互连之间并且未连接到所述第一互连和所述第二互连，并且具有将所述第一检测互连连接到串连连接的电源和电流表的终端，其中所述第一互连具有用于连接串连连接的电源和电流表的终端，并且所述第二互连具有用于连接串连连接的电源和电流表的终端。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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