[发明专利]半导体存储装置有效
申请号: | 200510076007.2 | 申请日: | 2005-06-03 |
公开(公告)号: | CN1707801A | 公开(公告)日: | 2005-12-14 |
发明(设计)人: | 关根顺一 | 申请(专利权)人: | 尔必达存储器股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/108 | 分类号: | H01L27/108;G11C11/409;H01L21/8242 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 李香兰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 在以规定的间距重复设置有在第1方向上延伸的1对布线的半导体存储装置中,具备按照规定模式的重复单位,设置有多个由栅极与1对布线中的一方布线相连接的MOS晶体管,和栅极与1对布线中的另一方布线相连接的MOS晶体管所构成的双晶体管的双晶体管群;双晶体管群的重复单位内,包括多个由两个MOS晶体管与第1方向相邻接配置而成的双晶体管,以及1个或多个由两个MOS晶体管在不邻接且偏斜的方向上相向设置而成的双晶体管。 | ||
搜索关键词: | 半导体 存储 装置 | ||
【主权项】:
1.一种半导体存储装置,以规定的间距重复设置有在第1方向上延伸的1对布线,其特征在于:按照下述方式构成:具备按照规定模式的重复单位,设置有多个由栅极与所述1对布线中的一方布线相连接的MOS晶体管,和栅极与所述1对布线中的另一方布线相连接的MOS晶体管所构成的双晶体管的双晶体管群,所述双晶体管群的重复单位内,包括多个由所述两个MOS晶体管与所述第1方向相邻接配置而成的双晶体管,以及1个或多个由所述两个MOS晶体管在不邻接且偏斜的方向上相向设置而成的双晶体管。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
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